Microscopio Stm Y Afm
Enviado por jennifer970117 • 25 de Octubre de 2014 • 338 Palabras (2 Páginas) • 277 Visitas
El Microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas (10−9m=1nm).
En la microscopía de fuerza atómica (AFM) una sonda puntiaguda extremadamente fina barre la superficie de la muestra registrándose las fuerzas de la interacción que hay entre la punta y la muestra cuando se encuentran muy próximas.
Cualquier interacción que se produzca entre la punta y la muestra puede dar lugar a un tipo de microscopía, así se pueden obtener imágenes que corresponden a topografía, fase, conductividad superficial, campos magnéticos, fuerzas laterales, potencial en la superficie, etc.
Dado que estos parámetros de interacción decaen rápidamente con la distancia, es necesario que la separación entre la punta y la muestra sea del orden o inferior al nanómetro lo que proporciona una altísima resolución.
Se distinguen dos modos de trabajo: Manteniendo la interacción punta-muestra constante o manteniendo la distancia punta-muestra constante. Además se puede trabajar en modo contacto, no-contacto o contacto intermitente. Se pueden hacer medidas en diferentes medios: aire, líquido, vacío, atmósfera controlada, etc.
En la microscopía de efecto túnel (STM) se mide la corriente eléctrica que aparece entre la punta y la muestra cuando se aplica una diferencia de potencial entre ambas. Cuando la punta se encuentra a unos 10 Å de la muestra, los electrones fluyen hacia la punta por efecto túnel, o viceversa, según el signo del voltaje aplicado. Para que esto suceda es necesario que la muestra sea conductora o semiconductora.
La imagen obtenida corresponde a la densidad electrónica de los estados de la superficie.
En la microscopía de fecto túnel se pueden obtener imágenes con resolución por debajo del angstrom.
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