RAYOS X EN CRISTALOGRAFÍA

“RAYOS X EN CRISTALOGRAFÍA”

INTRODUCCIÓN:

 MATERIAS PRIMAS: Son los recursos naturales a partir de los que obtenemos los materiales que empleamos en la actividad técnica.

 MATERIALES: Son los productos útiles para la actividad tecnológica que se obtienen de la transformación de las materias primas.

TABLA PRODPIEDADES DE LOS MATERIALES.

DESARROLLO.

DEFINICIONES:

 Cristalografía: Área científica que estudia la materia (originalmente materia cristalina – ordenada) mediante su interacción (difracción) con la radiación (rayos X) para obtener información de su estructura molecular y cristalina.

 Difracción: fenómeno físico característico del movimiento ondulatorio.

MÉTODO DE LAEU:

Se utiliza un Policromatico de Rayos X que incide sobre un cristal fijo y perpendicularmente a este se sitúa una placa fotográfica plana encerrada en un sobre a prueba de luz. El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la película y por lo tanto, se pone un pequeño disco de plomo delante de la película para interceptarlo y absorberlo.

MÉTODO DE LAEU EN FORMA DE TRANSMISIÓN

 La película se coloca detrás del cristal para registrar los rayos que son transmitidos por el cristal. Un lado del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo de transmisión. La película cruza el cono, de manera que las manchas de difracción generalmente se encuentren sobre una elipse.

MÉTODO DE LAEU EN FORMA DE REFLEXIÓN.

 La película es colocada entre la fuente de rayo X y el cristal. Los rayos que son difractados en una dirección anterior son registrados. Una parte del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo transmitido. La película

 cruza el cono, de manera tal que las manchas de difracción se encuentran generalmente están sobre una hipérbola.

APLICACIONES:

 En la actualidad, este método se utiliza para determinar la simetría: si un cristal se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetría, la disposición de las manchas en la fotografía revela su simetría. Una fotografía según este método de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal monoclínico, mostrará una disposición binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de simetría, la fotografía presentará una línea de simetría; si es un cristal rómbico mostrará una distribución doble de las manchas, con dos ejes de simetría.

METODO DE BRAGG.

 Se hace incidir un haz (de electrones, neutrones, rayos X) sobre un cristal que posee una familia de planos atómicos paralelos definidos por sus índices de Miller (h,k,l) y separados una distancia d. Cada plano refleja una porción de la radiación. El haz incidente forma un ángulo q sobre

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