LABORATORIO 2

OBJETIVOS

1. Conocer funcionamiento de diferentes puentes de medición y sus aplicaciones

2. Implementar un diferentes puentes de medición, conocer sus características

practicas.

3. Analizar las desviaciones de los resultados de las mediciones.

REALIZACIÓN DE LA PRÁCTICA

1. Diseñar e implementar Puente de Wheatstone; realice la medición de resistencias

de 100Ω, 1KΩ, 10KΩ, 100KΩ; compare los resultados de la medición con el valor

obtenido al medirse con multimetro digital y con el código de colores, analice las

principales fuente de error en la medición.

2. Diseñar e implementar Puente de Kelvin; realice la medición de resistencias de

pequeño valor (inferior a 10Ω); compare los resultados de la medición con el valor

obtenido al medirse con multimetro digital y con el código de colores, analice las

principales fuente de error en la medición.

3. Diseñar e implementar Puente Maxwell; realice la medición de resistencias de 2

inductancias que posean un Q de bajo valor; (Q menor de 10).

4. Diseñar e implementar Puente Hay; realice la medición de resistencias de 2

inductancias que posean un Q de valor alto; (Q mayor de 10).

5. Diseñar e implementar un Puente Shering, realice la medición de 3

condensadores, compare su valor son el valor nominal y analice las fuentes de

error en la medición.

TRABAJO COLABORATIVO

Presentar un informe sobre la experiencia de laboratorio, adjuntar el diseño

de los diferentes puentes. El diseño debe tener el circuito utilizado el valor

de las resistencias y como se hallaron estos valores. El informe debe tener:

Objetivos, Marco teórico, Diseño de los circuitos (con esquemas),

Mediciones, comparativos teoría-practica, conclusiones.

BIBLIOGRAFIA

1 Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”,

Prentice Hall.

2. Bopton, ”Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas”, Alfaomega

3. Lázaro, Manuel, “Problemas resueltos de instrumentación y medidas electrónicas”,

Paraninfo.

4. Manuales de los equipos de laboratorio seleccionados

5. Buchla, David y Mc Lachlan, Wayne, ”Applied electronic instrumentation and

measurement”, Macmillan publishing company, New York.

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