ENSAYOS MECÁNICOS

La intensidad de la señal de estos electrones para una energía dada del haz, depende del numero atómico del material (a mayor numero atómico mayor intensidad). Este hecho permite distinguir fases de un material de diferente composición química. Las zonas con menor Z se verán más oscuras que las zonas que tienen mayor número atómico.

Electrones retrodispersados

Electrones primarios

Electrones secundarios

Electrones Auger

Electrones característicos

Los espectros de dispersión se presentan en graficas donde el eje horizontal son unidades de energía, en Kiloelectronvoltios (KeV) y el eje vertical número de cuentas o intensidad que se va autoajustando a medida que crece el número de cuentas de la energía del pico más alto.

Histogramas

Difractogramas

Aerogramas

Diagrama de potencia

Pictogramas

Como se controla el espesor del recubrimiento de oro en un equipo de sputtering.

Tiempo de exposición

Altos voltajes

Bajos voltajes

Pureza de la tarjeta de oro

Gas de arrastre (Argon)

Esta técnica se utiliza cuando se requiere de un análisis elemental de una muestra no conductora siendo necesario recubrir la superficie con un elemento lo más transparente posible a los RX.

Técnica de recubrimiento con carbono

Técnica de recubrimiento con oro

Corte por micrótomo

Recubrimiento con parafina

Pulido

Esta técnica es utilizada para identificar y cuantificar la composición elemental de muestras con áreas tan pequeñas de hasta micrómetros cúbicos.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

Esta técnica consta de cuatro componentes principales: la fuente de energía, detector de rayos X, procesador de pulso y un analizador.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

Esta técnica es capaz de identificar la composición elemental de materiales para todos los elementos de número atómico mayor que el boro. La mayoría de los elementos se detectan en concentraciones del orden 0,1%.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

Mediante esta técnica los fluidos pueden ser identificados y diferenciados con respecto a otros. Además, como el haz de electrones del microscopio puede enfocarse en un punto pequeño sobre la superficie de una muestra, varios puntos pueden ser analizados independientemente.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

La técnica utiliza rayos X que son emitidos desde la muestra durante el bombardeo de un haz de electrones del SEM para caracterizar la composición elemental del volumen analizado.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

Dispositivo del EDS que mide el número de rayos X emitidos respecto a la energía. La energía de los rayos X es característico de los elementos desde donde fueron emitidos los rayos.

Detector

Fuente de energia

Procesador de pulso

Analizador

Lentes

Algunas de sus aplicaciones incluyen la evaluación e identificación contaminantes, Perfiles de difusión elemental, contenido de fósforo en la glassivacion, polímeros, identificación de rellenos y su química, etc.

EDS

SEM

TEM

WDS

DRX

Esta tecnica identifica la composición elemental de los materiales fotografiados en un microscopio electrónico con una mejor resolución espectral, sensibilidad y capacidad para determinar las concentraciones de elementos ligeros.La mayoría de los elementos se detectan por debajo del 0,1% y tan bajos como pocas ppm.

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

En esta técnica los fotones de rayos-X excitados por el haz de electrones son ordenados usando un cristal de difracción cuya colocación angular relativa a la muestra y al fotodetector es una única medida de su longitud de onda.

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

Algunas de sus aplicaciones incluyen la determinación de los elementos superpuestos espectralmente, como: S en presencia de Pb o Mo, W o Ta en Si, o N en Ti, Br en Al.

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

Algunas de sus aplicaciones incluyen la detección de baja concentración de especies (hasta 100 e incluso 10 ppm): P o S en metales, contaminantes en los catalizadores de metales preciosos, raza de contaminación de metales pesados, etc

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

Algunas de sus aplicaciones incluyen el análisis de elementos de bajo número atómicos: composición de cerámicas avanzadas y materiales compuestos, oxidación y corrosión de metales, caracterización de materiales biomédicos y modificados orgánicamente, etc.

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

Algunas de las ventajas de esta tecnica son: análisis de elementos ligeros con al menos un orden de magnitud, alta sensitividad, resolución de picos de espectros sobrepuestos, etc.

WDS

EDS

SEM

TEM

DRX

Es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, que comparado con un microscopio óptico cuya potencia amplificadora está limitada por la longitud de onda de la luz visible.

TEM

WDS

EDS

SEM

DRX

Este equipo utiliza un haz de electrones dirigido hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra.

TEM

WDS

EDS

SEM

DRX

Lo característico de este microscopio es el uso de una muestra ultrafina y que la imagen se obtenga de los electrones

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