HERRAMIENTAS DE INDUCCION
Enviado por pepa88 • 26 de Abril de 2016 • Ensayo • 298 Palabras (2 Páginas) • 296 Visitas
HERRAMIENTAS DE INDUCCION | |||||
TIPO HERRAMIENTA | PRINCIPIO | ESPACIAMIENTO | TIPO DE LODO | MIDE | CURVA ESCALA DE RESISTIVIDAD |
Registro inductivo | Dispositivo de 6 bobinas enfocadas | 16 pulg | Fluido aceite o aire | electrodo sp | |
Sistema ILD-LL8 | Utilizaba un instrumento de inducción para lectura profunda, media, dispositivo LL8 | Fluidos muy conductivos | ILD: mide Rt | electrodo sp | |
SLF evaluación de la saturación | Proporcionaba la capacidad de evaluar el potencial de hidrocarburos | Espesorde capa > 4.0 m | Enlodosno conductivoso aire SFL no se presenta | SFL: mide Rxo | electrodo sp registro sónico |
DIL-SLF | Parecida al Sistema ILD-LL8, excepto que SLF reemplaza al LL8 | SFL: mide Rxo | electrodo sp | ||
Inductor phasor | Un dispositivo de lectura profunda, media. | espesores de capa menores a 2.5m sin necesidad de correcciones | En lodos moderadamente conductivos, no conductivos o aire | Están influenciadosporlainvasiónsiRxo | electrodo sp |
HERRAMIENTAS DE INDUCCION | |||
VENTAJAS | DESVENTAJAS | ASPECTOS GENERALES | CORRECCIONES EFECTO |
Mejoran la resolución vertical al suprimir la respuesta de las formaciones adyacentes. Aumentan la profundidad de investigación al suprimir la respuesta de la columna de lodo y de la formación al pozo. | No se debe correr este registro cuando: 1.diámetros de hueco muy grandes (anomalía : baja Ra) 2.Lodos muy salinos | Más Preciso en formaciones de resistividad baja a media | |
Utilizado Para lectura profunda, compuesto por dispositivo de inducción profunda (ID, parecido al 6 FF 40 ) Dispositivo de inducción media (IM) - (LL8) ; Reemplazando al Normal 16pulg | |||
Lodosmuysalinos,grandesdiámetros, formacionesdealta resistividad >250ohm-m | Consiste de: electrodos de corriente emisión, corriente retorno y electrodos de medida, dos esferas equipotenciales( 9’’ del electrodo de corriente y la otra a 50’’ de distancia | ||
Parecido al DIL-LL8. El SFL reemplaza al LL8 como instrumento de investigación poco profundo. El efecto del hueco afecta menos al SFLque al LL8 | efecto de capa delegada efecto de agujero efecto de piel | ||
Transmisión digital y sistema de procesamiento. Sistema de verificación continúa de verificación. Puede operarse a frecuencias de 10 y 40 Khz | Teniendo esta señal se facilita corrección del efecto de piel con mayor precisiónvi. Mejora las mediciones de inducción en capas delgadas y permite el uso de una mejor técnica de convolución | Se corrige por el efecto de la capa adyacente, mejora en gran medida la resolución en formaciones con invasión |
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