Ciencias de materiales.

INFORME DE LABORATORIO

Nombre:                                        Marcos Andrés Endara Vélez

Materia, paralelo, horario:                        Ciencia de los Materiales, Paralelo 103,                                                        Martes 9:30-10:30

Número y Título de la práctica:                Práctica N°2, Caracterización de Materiales-Difracción de Rayos X

Profesor:                                        Grace Andrea Vera Pauta

Fecha de práctica:                                Junio 07, 2016

Fecha de presentación:                        Junio 20, 2016

Nombre de compañero de Laboratorio:        Marcos Andrés Endara Vélez

A. Resumen

Esta práctica se realizó para conocer los principios y aplicaciones de la técnica de la difracción de Rayos X. Aplicamos la técnica de la difracción de Rayos X en materiales cerámicos y metálicos. Y por último determinamos el tipo de estructura cristalina de los materiales analizados.

Se pudo analizar con una gran probabilidad la constitución de un material sea cerámico o metálico, ya que se utilizó equipos de última tecnología, óptimos para la práctica, entre ellos tenemos al difractómetro de Rayos X, quien nos proporcionó la información requerida para la determinación de cristal en la práctica. Pudimos describir el cristal mediante sus características que son:

• Posición: identificación de compuestos
• Ancho: caracterización del estado de la estructura cristalina
• Intensidad: determinación cuantitativa de compuesto cristalinos

Cada compuesto cristalino tiene su propio diagrama de difracción de Rayos X.

La difracción es la única técnica que permite identificar a os compuestos cristalinos.

El software en el equipo nos permitió calcular la distancia entre planos cristalinos y la intensidad de cada pico.

B. Enfoque Experimental

Se procedió con la preparación del equipo y la muestra que determinamos, para ambos casos se tuvo que realizar con instrumentos de seguridad como: guantes, mascarilla, mandil. Bajamos al laboratorio, para la realizar la práctica, con nuestros cuadernos y esferográficos para poder anotar las condiciones de práctica, y los resultados de dicha; luego de preparar la muestra en el kit de preparación que consta de un platillo donde se coloca la muestra en forma de polvo, y unas gotas de agua destilada para hacer de la muestra algo compacta, con una espátula pequeña para poder regar la muestra por toda la platina; luego de esto, metimos la muestra en un porta placas ubicado dentro del difractómetro de Rayos X, donde ya estaba encendido previamente para que se caliente el alambre de cobre que conduce el voltaje e intensidad de corriente eléctrica para poder emitir los rayos x para que suceda la difracción en los planos cristalinos de la muestra; este equipo es de última tecnología, y muy óptimo para la determinación de un cristal mediante la distancia entre planos, este equipo es (Difractómetro de Rayos X, modelo: X´pert PRO, Panalytical, EM-001-00). Las condiciones iniciales de la prueba son la intensidad de corriente eléctrica y el voltaje que pasaba por el tubo de cobre de Rayos X que son 45[mA], y 40[kV] respectivamente. También se calibro  los ángulos del difractómetro de Rayos X para el inicio 15° y para el final 80° (Ojo: estos ángulo son las respectivas posiciones 2θ que aparece en la Ecuación de Bragg; también se estandarizó una tolerancia de los picos (sirve para que aparezcan únicamente los picos máximos de la gráfica de difracción de Rayos X) de 8.00, y trazamos una línea en la base de los picos para así eliminar la sección de la gráfica que no es parte de la difracción, por causas de que el cristal no es puro.

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