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Metrologia Y Normalizacion


Enviado por   •  10 de Septiembre de 2014  •  1.900 Palabras (8 Páginas)  •  405 Visitas

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1.- DATOS DE LA ASIGNATURA

Nombre de la asignatura:

Carrera:

Clave de la asignatura:

SATCA1

Metrología y Normalización

Ingeniería Industrial, Ingeniería en Materiales

AEC-1048

2-2-4

2.- PRESENTACIÓN

Caracterización de la asignatura.

Esta asignatura aporta al perfil del Ingeniero Industrial e Ingeniero en Materiales la implementación de sistemas de medición y control de calibraciones de equipos de medición requeridos en los sistemas de gestión de calidad para satisfacer los requerimientos del cliente, además utiliza los instrumentos de medición de mayor aplicación para el apoyo en la certificación y/o acreditación con las normas vigentes.

Esta asignatura consiste en conocer los factores que afectan a las mediciones, así como los conceptos que se aplican a ellas y utilizar el lenguaje técnico.

Conocer y aplicar la metodología en el uso de los instrumentos de medición así como las técnicas que se utilizan para controlar las especificaciones requeridas, acorde a las normas nacionales e internacionales.

Intención didáctica.

Se estructura la asignatura en tres unidades, en la primer unidad se agrupan los contenidos conceptuales respecto a la normalización; en la segunda unidad se aborda la comprensión, aplicación y manejo de los instrumentos de medición, el campo de acción de la metrología y en la tercera unidad se tratan las características, el manejo, aplicación y uso de los diversos instrumentos de medición y control.

Se abordan los conceptos, filosofías y contenidos integrando una visión de conjunto de la aplicación de la normalización para la elaboración de diversos productos que llevan a la aceptación de estos en el mercado, identificándolos con la simbología internacional.

1 Sistema de asignación y transferencia de créditos académicos

3.- COMPETENCIAS A DESARROLLAR

Competencias específicas:

Manejar desde un punto de vista de la metrología y normalización, los métodos y sistemas de medición.

Competencias genéricas:

Competencias instrumentales

• Capacidad de análisis y síntesis. • Capacidad de organizar y planificar. • Conocimientos básicos de la carrera • Comunicación oral y escrita • Habilidades básicas de manejo de la computadora • Habilidad para buscar y analizar información proveniente de fuentes diversas • Solución de problemas • Toma de decisiones.

Competencias interpersonales • Capacidad crítica y autocrítica • Trabajo en equipo • Habilidades interpersonales

Competencias sistémicas • Capacidad de aplicar los conocimientos en la práctica • Habilidades de investigación • Capacidad de aprender • Capacidad de generar nuevas ideas (creatividad) • Habilidad para trabajar en forma autónoma • Búsqueda del logro

4.- HISTORIA DEL PROGRAMA

Lugar y fecha de elaboración o revisión Participantes

Observaciones (cambios y justificación)

Instituto Tecnológico Superior de Ecatepec Edo. De México del 9 al 13 de Noviembre de 2009 Representantes de los Institutos Tecnologicos de : Saltillo, Piedras Negras, Matehuala, Campeche, Tehuacan, Sierra Norte, Valladolid, Comitan, Tuxtla Gutierrez, Ocotlan, Chihuahua, Nuevo León, Cd Juarez, Zacapoaxtla. Reunión del Sistema Nacional de Educación Superior Tecnológica. Institutos Tecnológicos de:

Piedras Negras, Sierra Norte, Nuevo León, Tehuacán, Zacapoaxtla, Matehuala, Comitán, Saltillo, Campeche, Cd Juarez.

Instituto Tecnológico de Zacatecas, del 12 al 16 de Abril de 2010

Representantes de Academia de Ingeniería Industrial.

Representantes de los Institutos Tecnologicos de : Saltillo, Piedras Negras, Matehuala, Campeche, Tehuacan, Sierra Norte, Valladolid, Comitan, Tuxtla Gutierrez, Ocotlan, Chihuahua, Nuevo León, Cd Juarez, Zacapoaxtla.

Tecnologicos

Reunión Nacional de Consolidación de Planes y Programas de Estudio del Sistema Nacional de Educación Superior Tecnológica.

5.- OBJETIVO(S) GENERAL(ES) DEL CURSO

Manejar desde un punto de vista de la metrología y normalización, los métodos y sistemas de medición.

6.- COMPETENCIAS PREVIAS

• Conocer los sistemas internacionales de medida. • Realizar cálculos matemáticos. • Interpretación y codificación de planos. • Conocer las dimensiones y tolerancias geométricas. • Fundamentos básicos de electricidad y electrónica y el uso de equipos de medición.

7.- TEMARIO

Unidad Temas Subtemas 1 Normalización 1.1 Definición y concepto de normalización. 1.2 Espacio de normalización. 1.3 Esquema mexicano de normalización. 1.4 Fundamentos legales. 1.5 Normas oficiales mexicanas NOM. 1.6 Normas mexicanas NMX. 1.7 Organismos de normalización y certificación. 1.8 La certificación de normas técnicas de competencia laboral. 1.9 Normas sobre metrología. 1.10 Sistema metrológico y su relación con el sistema de calidad. 1.11 Acreditación de laboratorios de prueba. 2 Metrología. 2.1 Antecedentes. 2.2 Conceptos básicos. 2.3 Uso de los sistemas internacionales de medida. 2.3 Sistemas de medición, temperatura, presión, torsión y esfuerzos mecánicos. 2.4 Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales. 2.5 Campos de aplicación de la metrología. 2.6 Metrología dimensional: Generalidades, dimensiones y tolerancias geométricas, Definiciones, Sistemas ISC de tolerancias, Calculo de ajustes y tolerancias. 2.7 Tipos de errores: Definición, Impacto en la medición, Clasificación, Causas de los

errores, Consecuencias en la medición, Estudios de R y R. 2.8 Instrumentos de medición directa. • Clasificación de los instrumentos de medición. • Instrumentos de medición analógica y digital. • Calibrador Vernier. • Micrómetro. • Comparadores de carátula. • Bloques patrón. • Calibradores pasa – no pasa. • Calibrador de altura. 2.9 Rugosidad. • Características. • Tipos de medición de rugosidad.

3 Metrología óptica e instrumentación básica. 3.1 Introducción a la óptica. 3.2 Óptica geométrica. 3.3 Óptica física. 3.4 Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales. 3.5 Instrumentos ópticos. 3.6 Instrumentos mecánicos 3.7

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