Difraccion de rayos X
Enviado por Andrés Gómez • 10 de Marzo de 2019 • Informe • 604 Palabras (3 Páginas) • 89 Visitas
Concepto:[pic 1]
Difracción de Rayos X (DRX)
Curso ME2208 Ciencia de Materiales - Primer semestre, 2019
Equipo requerido:[pic 2][pic 3][pic 4][pic 5][pic 6][pic 7]
Ventajas del método:
La difracción de rayos X es uno de los fenómenos físicos que se producen al interaccionar un haz de rayos X, de una determinada longitud de onda, con una sustancia cristalina.
Aplicaciones:
- Identificar fases interplanares de un cristal.
- Pureza de las muestras.
- Realizar análisis cuantitativo.
- Determinar estructuras cristalinas.
- Definir diagramas de fase.
- Establecer las tensiones de grano.
- Conocer el coeficiente de absorción de una sustancia.
Muestra de Cristales Polvorizada
Orientar hacia los rayos X
Difractómetro: mide la intensidad del haz de luz difractado
Goniómetro circular: mide el el ángulo
Gráficos para realizar el análisis
- Es una de las técnicas que goza de mayor prestigio entre la comunidad científica para dilucidar el patrón de difracción de las estructuras cristalinas a nivel atómico, lo que se puede interpretar como la huella única de cada material.
- La difracción rayos X desempeña un papel esencial en la descripción de la doble hélice de la molécula de ADN, así como en la descripción estructural de proteínas.
Limitaciones del método:
-Este método no es aplicable en las disoluciones, sistemas biológicos y sistemas amorfos, al igual que a los gases (Universidad Complutense de Madrid,sf).
-Si el tamaño de las muestras es muy pequeña puede conducir[pic 8][pic 9][pic 10][pic 11][pic 12][pic 13][pic 14][pic 15][pic 16][pic 17][pic 18][pic 19][pic 20][pic 21][pic 22][pic 23][pic 24][pic 25]
Principio Físico:
Dado que las longitudes de onda de algunos rayos X son aproximadamente iguales a la distancia entre planos de los átomos en los sólidos cristalinos, pueden generarse picos de difracción reforzados de intensidad variable que pueden producirse cuando un haz de rayos X choca con un sólido cristalino.
Ley de Bragg: n λ = 2dsenθ[pic 26][pic 27]
Procedimiento: Resultados:
[pic 28]
a errores.
Normas ASTM (Asociación Americana para ensayos y materiales) aplicables al método:
ASTM E915-16
Verificar la alineación de la instrumentación
Gamma 10 -12
Rayos X 10 -10
Donde:
n = es un número entero que representa el orden de reflexión.
λ = longitud de onda de los rayos X d = distancia interplanar del cristal θ = ángulo de incidencia.[pic 29][pic 30][pic 31][pic 32][pic 33][pic 34][pic 35]
Panel del cristal de muestra
Difracción visualmente[pic 36]
ASTM D5380-93 (2014)
Identificación de pigmentos cristalinos
ASTM D3906-03 (2013)
Determinación de las intensidades de difracción
ASTM C1365-18
Determinación de la proporción de fases en polvo.
...