Microscopía óptica

UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DE XICOTEPEC DE JUÁREZ

         ACADEMIA DE MANTENIMIENTO INDUSTRIAL Y PETRÓLEO

NOMBRE DE LA CARRERA

CUATRIMESTRE

NOMBRE DE LA ASIGNATURA

TURNO

INGENIERÍA EN MANTENIMIENTO ÁREA INDUSTRIAL

7

ENSAYOS DESTRUCTIVOS

SABATINO

PRÁCTICA

No.

LABORATORIO

NOMBRE DE LA PRÁCTICA

DURACIÓN

                      2

MANUFACTURA

INTERPRETAR EL ENSAYO METALOGRAFIO POR MEDIO DE MICROSCOPIA OPTICA, MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO, MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION

2 HORAS

1. INTRODUCCION

Utilizando diversas técnicas de microscopía, como microscopía óptica, microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía electrónica de transmisión (TEM), se puede obtener información detallada sobre la composición, fase, textura y otras propiedades microestructurales.

La microscopía óptica ofrece una visión amplia de la muestra con bajo aumento, lo que permite observar la estructura general del material. Además, la microscopía óptica permite análisis cualitativos y cuantitativos, como mediciones del tamaño de grano.

Por otro lado, la microscopía electrónica de barrido (SEM) proporciona imágenes de alta resolución de la superficie de la muestra.

La microscopía electrónica de transmisión (TEM) va un paso más allá y permite observar la estructura interna de la muestra a nivel nanométrico. Con TEM es posible obtener imágenes de secciones delgadas de la muestra y revelar detalles finos como dislocaciones, defectos cristalinos y la distribución de los átomos.

1. MARCO TEÓRICO

Un ensayo metalográfico utilizando microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica avanzada que permite la evaluación detallada de la microestructura de materiales metálicos a escalas micro y nanométricas. En este proceso, una muestra del material se prepara mediante técnicas de pulido y grabado para revelar su estructura interna.

La microscopía electrónica de barrido (SEM) proporciona imágenes de alta resolución de la superficie de la muestra, permitiendo la observación detallada de la topografía y morfología de la superficie. Además, la SEM posibilita el análisis de composición química mediante la detección de electrones secundarios y retrodispersados, ofreciendo información valiosa sobre la distribución de fases y la presencia de defectos superficiales.

Por otro lado, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) lleva la investigación a un nivel más profundo al permitir la observación de secciones ultrafinas de la muestra. Con la TEM, se pueden estudiar detalles a nivel atómico, incluyendo la visualización de dislocaciones, defectos cristalinos y la organización precisa de átomos en la estructura. Además, la TEM facilita la identificación de nanofases y la evaluación de la cristalinidad de los materiales.

Ambas técnicas, SEM y TEM, se complementan entre sí para ofrecer una visión completa de la microestructura de los materiales metálicos, brindando información crítica para entender propiedades como la resistencia, la ductilidad y la conductividad. Este enfoque avanzado de análisis metalográfico es esencial para la investigación y desarrollo de materiales en diversas industrias, desde la ingeniería de materiales hasta la nanotecnología.