Analisi de capacidad.

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INGENIERÍA INDUSTRIAL  7 SEMESTRE

MATERIA

TÓPICOS DE INGENIERÍA DE CALIDAD

UNIDAD 3[pic 4]

FILOSOFÍA Y METODOLOGÍA 6 SIGMA

PROFESOR

        ESBÁN ISAÍ ESCOBEDO ÁLVAREZ         

ALUMNO

GERARDO BARRIOS SÁNCHEZ

MATRICULA

12020057

TRABAJO

Practica

APATZINGÁN, MICHOACÁN. A DICIEMBRE  DEL  2015.

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Resistencia de un diodo emisor de luz

Trata sobre la aplicación de la metodología de seis sigma, los métodos de causa y efecto, análisis de la capacidad, diagrama de Pareto, para analizar los problemas que se están presentando debido a la baja resistencia a la prueba de jalón de un diodo emisor de luz (LED) de una compañía electrónica del noroeste de México, el cual es utilizado en el ensamble de teléfonos celulares.

Al término de este proyecto se logró una mejora significativa al aumentar la capacidad del proceso y un impacto en la reducción de los costos, tan solo por eliminación de desperdicio. No se requirió de inversión adicional, únicamente fue necesario controlar el ajuste de cada uno de los factores importantes del proceso.

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Diagrama de Pareto

Por tener un efecto crítico en la calidad del producto se determinó que la característica considerada para el estudio es la resistencia a la prueba de jalón.

Causa y efecto

En esta fase se realizó un análisis de los posibles factores que alteran la resistencia del producto y se construyó un diagrama causa-efecto para identificar las variables que pudieran estar afectando la resistencia a la prueba del jalón del producto, el cual se muestra en la tabla realizada en minitab.

Análisis de capacidad

Para el análisis de capacidad se llevó a cabo la obtención de 25 muestras de tamaño 4 cada una, durante 5 días en los diferentes turnos. Obteniendo 100 datos de las resistencias de productos fabricados, suficientes para obtener resultados razonablemente precisos.

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