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Enviado por   •  24 de Septiembre de 2014  •  645 Palabras (3 Páginas)  •  180 Visitas

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MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA

El Microscopio de Fuerza Atómica (MFA) es un instrumento mecano-óptico capaz de

detectar fuerzas del orden de los nanonewton. Al analizar una muestra, se registra

continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma

piramidal. La sonda va acoplada a un listón microscópico, muy sensible al efecto de

las fuerzas, de sólo unos 200 μm de longitud.

Microscopio de fuerza atómica Imagen de un pelo

La fuerza atómica se puede detectar cuando la punta se aproxima a la superficie de la

muestra. Se registrar la pequeña flexión del listón mediante un haz láser reflejado

en su parte posterior. Un sistema auxiliar piezoeléctrico desplaza la muestra

tridimensionalmente, mientras que la punta recorre ordenadamente la superficie.

Todos los movimientos son controlados por una computadora.

La resolución del instrumento es de menos de 1 nm, y la pantalla de visualización

permite distinguir detalles en la superficie de la muestra con una amplificación de

varios millones de veces.

El microscopio de MFA, puede realizar dos tipos de medidas: imagen y fuerza. En la

modalidad de imagen, la superficie es barrida en el plano de la superficie por la

punta. Durante el barrido la fuerza interatómica entre los átomos de la punta y los

átomos en la superficie de la muestra, provoca una flexión del listón. Esta flexión es

registrada por un sensor adecuado (normalmente balanza óptica) y la señal obtenida

se introduce en un circuito o lazo de realimentación. La fuerza interatómica se puede

detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie de la muestra. En medidas

de fuerza la punta se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexión del

listón. Las medidas de fuerza son útiles en estudios de fuerzas de adhesión y permiten

estudiar a nivel de una sola molécula interacciones específicas entre moléculas (ej:

interacción antígeno-anticuerpo, interacción entre hebras complementarias de ADN) o

interacciones estructurales de las biomoléculas (plegado de proteínas) así como

caracterizar la elasticidad de polímeros. También es útil en estudios de indentación de

materiales blandos (polímeros) que permitan caracterizar propiedades elásticas de la

muestra como el módulo de elasticidad o visco elásticas.

El Microscopio de Fuerza Atómica provee la imagen de una superficie sin que

intervegan los efectos eléctricos, al medir las fuerzas mecánicas en la punta

detectora, por lo que también resulta útil para materiales no conductores.

A principios de este año, un equipo liderado por el Consejo Superior de

Investigaciones Científicas (CSIC) perfeccionó la técnica

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