Solucion capitulo 5 control estadistico de la calidad
Enviado por Magaly Barriga • 19 de Mayo de 2020 • Examen • 484 Palabras (2 Páginas) • 2.463 Visitas
14- 15. Considerar la inspección con rectificación para un muestreo único. Desarrollar una ecuación AOQ suponiendo que todos los artículos defectuosos se eliminan, pero no se remplaza con artículos satisfactorios.
[pic 1]
Para calcular la calidad de salida promedio primero hacemos la formula de la fracción defectuosa esperada y lo dividimos entre N multiplicando a la fracción de la probabilidad de una unidad defectuosa y esta a su vez por el promedio p del proceso, y le restamos la multiplicación de la probabilidad de que no sea defectuoso por el promedio del proceso de la población.
14- 16. Un proveedor embarca un componente en lotes de tamaño N= 3000. El AQL para este producto se ha establecido en 1%. Encontrar los planes de muestreo único con inspección normal, rigurosa y reducida para esta situación a partir del estándar MIL STD 105E, suponiendo que el nivel II de inspección general es apropiado.
Datos:
N= 3000
AQL= 1%
Nivel general= II
Letra de codigo = K
Plan de muestreo normal= n= 125, Ac= 3, Re= 4
Plan de muestreo ajustado= n= 125, Ac= 2, Re= 3
Plan de muestreo reducido= n= 50, Ac= 1, Re= 4
14- 17. Repetir el ejercicio 14- 16, usando el nivel I de inspección general, discutir las diferencias en los diferentes planes de muestreo.
Datos:
N= 3000
AQL= 1%
Nivel general= I
Letra de Código = H
Plan de muestreo normal= n= 50, Ac= 1, Re= 2
Letra de código = J
Plan de muestreo ajustado= n= 80, Ac= 1, Re= 2
Letra de Código = H
Plan de muestreo reducido= n= 20, Ac= 0, Re= 2
Podemos notar que con un nivel general I el tamaño de muestra se reduce.
14- 18. Un producto se surte en lotes de tamaño N= 10000. El AQL se ha especificado en 0.10%. encontrar los planes de muestreo único con inspección normal, rigurosa y reducida para esta situación a partir del estándar MIL STD 105E, suponiendo que se usa el nivel II de inspección general.
Datos:
N= 10,000
AQL= 0.10%
Nivel general= II
Letra de Código = K
Plan de muestreo normal= n= 125, Ac= 0, Re= 1
Letra de Código = L
Plan de muestreo ajustado= n= 200, Ac= 0, Re= 1
Plan de muestreo reducido= n= 50, Ac= 0, Re= 1
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