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Ate Fuente Regulada


Enviado por   •  30 de Noviembre de 2014  •  1.412 Palabras (6 Páginas)  •  168 Visitas

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OBJETIVO

El objetivo de la práctica es diseñar un ate a una fuente ver su funcionamiento y comportamiento y checar si está bien o mal la fuente.

INTRODUCCIÓN

Equipo de prueba automática o automática es cualquier aparato que realiza pruebas en un dispositivo, conocido como el dispositivo bajo prueba o unidad bajo prueba, utilizando la automatización para ejecutar rápidamente las medidas y evaluar los resultados de las pruebas. La ATE puede ser un simple ordenador controlado multímetro digital, o un complicado sistema que contiene docenas de instrumentos de prueba complejas capaz de probar y diagnosticar automáticamente fallos en piezas envasadas electrónicas sofisticadas o en las pruebas de la oblea, como system-on-chips y circuitos integrados.

Cuando ATE se usa

ATE es ampliamente utilizado en la industria de fabricación de productos electrónicos para probar los componentes y sistemas electrónicos después de haber sido fabricado. ATE también se utiliza para probar la aviónica y los módulos electrónicos en los automóviles. Se utiliza en aplicaciones militares como radar y comunicación inalámbrica.

ATE en la industria de los semiconductores

Semiconductor ATE, el nombre de ensayo de dispositivos semiconductores, puede probar una amplia gama de dispositivos y sistemas electrónicos, a partir de componentes simples a los circuitos integrados, circuitos impresos, y los sistemas electrónicos complejos, completamente ensambladas. Sistemas ATE están diseñados para reducir la cantidad de tiempo de prueba necesaria para verificar que un dispositivo en particular funciona o para encontrar rápidamente sus fallos antes de que la parte tiene una oportunidad de ser utilizado en un producto de consumo final. Para reducir los costes de fabricación y mejorar el rendimiento, dispositivos semiconductores deben ser probados después de haber sido fabricada para evitar incluso un pequeño número de dispositivos defectuosos que terminan con los consumidores.

Componentes de ATE

La arquitectura ATE Semiconductor consta de controlador maestro que sincroniza una o más fuentes y los instrumentos de captura. Históricamente, los controladores de diseño personalizado o relés fueron utilizados por los sistemas ATE. El dispositivo bajo prueba está conectado físicamente a la ATE por otra máquina robótica denominada controlador o Prober y a través de un adaptador de prueba de interfaz personalizada o "accesorio" que se adapta los recursos de la ATE para el DUT.

PC Industrial

El PC industrial no es más que una computadora de escritorio normal de empaquetado en las normas de rack de 19 pulgadas con suficientes ranuras PCI/PCIe para acomodar el simulador de señal/sensor de cartas. Esto toma el papel de un controlador en ATE. Desarrollo de aplicaciones de prueba y almacenamiento resultado se logró en este PC. ATEs semiconductores más modernos incluyen varios instrumentos controlados por el ordenador a la fuente o medir una amplia gama de parámetros. Los instrumentos pueden incluir suministros digitales, unidades de medición paramétrica, generadores de forma de onda arbitraria, digitalizadores, iOS Digital y suministros de servicios públicos. Los instrumentos a cabo diferentes mediciones en el DUT, y los instrumentos están sincronizados de manera que la fuente y medida de formas de onda en los momentos adecuados. Basado en el requisito de respuesta en tiempo, también se consideran sistemas de tiempo real para la estimulación y la captura de la señal.

Interconexión de masas

La interconexión de masas es una interfaz de conexión entre los instrumentos de prueba y los dispositivos/unidades bajo prueba. Esta sección actúa como un punto de señales que van in/out entre nodal ATE y D/ESP.

Ejemplo: Medida de tensión simple

Por ejemplo, para medir un voltaje de un dispositivo semiconductor concreto, los instrumentos de procesamiento de señal digital de la ATE medir la tensión directamente y enviar los resultados a un ordenador para el procesamiento de señales, donde se calcula el valor deseado. Este ejemplo muestra que los instrumentos convencionales, como un amperímetro, no pueden ser utilizadas en muchas ATEs debido al número limitado de mediciones del instrumento podría hacer, y el tiempo que se necesitaría para utilizar los instrumentos para realizar la medición. Una de las ventajas clave para utilizar DSP para medir los parámetros es el tiempo. Si tenemos que calcular la tensión de pico de una señal eléctrica y otros parámetros de la señal, a continuación, hay que emplear un instrumento detector de pico, así como otros instrumentos para poner a prueba los otros parámetros. Si se utilizan instrumentos basados en DSP, sin embargo, a continuación, una muestra de la señal se hace y los otros parámetros se puede calcular a partir de la medición

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